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探針分類探針根據電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內大部分的探針產品均可替代進口產品;B、在線測試探針:
PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;產品的核心技術還是掌握在國外公司手中,國內部分探針產品已研發成功,可替代進口探針產品;C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術還是掌握在國外公司手中,國內生產廠商積極參與研發,但只有一小部分成功生產。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(B1ade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針(ICT series Probes)一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,行業內的標準稱呼100mi1,75mi1,50mi1,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.
也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)非標準的探針,一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的,例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關探針(Switch Probes)開關探針單一支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉探針(Rotator Probes)彈力一般不高,因為其穿透性本來就很強,一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針(High Current Probes)探針直徑在
2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針(Semiconductor Probes)直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Q characteristic
9.電池接觸探針(Battery and Connector Contacts)一般用于優化接觸效果,穩定性好和壽命長.除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用.
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